其他
本发明涉及一种光学检测方法及装置,特指一种用于检测数显卡尺精度的方法及装置。所述的精度检测装置包括工作台、定位机构、夹紧机构、水平移动机构、光栅尺装置、计算机。方法包括如下步骤:①将待检测数显卡尺放在工作台上定位夹紧后,通过光栅判定待检测物体起始位置并记录位置,而后传递到计算机;②通过水平移动机构沿轴向移动数显卡尺主尺至检测点,并由光栅尺装置记录移动位移量传递到计算机;③重复步骤2直至所有检测点检测完成;④计算机将所获得的光栅数据与检测点数据进行综合处理、误差补偿,并判断出待测卡尺是否合格。