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SMD晶振封装上盖镀镍层特性对晶振封焊性能的影响

发布时间: 2022-11-01
来源: 试点城市(园区)
截止日期:2022-11-30

价格 双方协商

地区: 安徽省 铜陵市 铜官区

需求方: 安徽***公司

行业领域

新材料技术,金属材料

需求背景

石英晶体谐振器是广泛使用的电子元件,SMD石英晶振用金属盖板(LID)是晶体三大核心部件之一,其技术和品质状况决定了石英晶体谐振器的技术水准和质量水平,现用LID上盖是采用可伐材电解镀镍生产的,电镀成品需要与晶振基座上的可伐环(镀金)进行电阻焊,将晶振致密封闭在腔体内,满足内部晶振工作的密闭环境要求。现在需要了解的LID上盖镀层对产品的密封性能和内部晶振的性能有哪些影响,需要优化镀层的哪些参数。

需解决的主要技术难题

现有工艺采用瓦特镍工艺,在可伐材料基体上直接电镀暗镍,除客户指定外,镀层厚度3-5微米,正常产品抗中性盐雾试验36小时以上;产品热处理去应力后发给客户端使用。客户在对比试验中发现,产品封焊漏气率高于日本进口同类产品;针对晶振高频产品,封焊后晶振频率偏移大于进口同类产品

需要解决:

1除镀层厚度以外镀镍层的哪些特性会导致封焊漏气率偏高?

2除镀层厚度以外镀镍层的哪些特性会导致成品晶振频率偏移?

期望实现的主要技术目标

1课题解决将会提高产品工艺生产的技术水平;

2工艺控制中产品合格率也将会提高5-8%,降低生产成本。

处理进度

  1. 提交需求
    2022-11-01 16:22:46
  2. 确认需求
    2022-11-03 21:18:05
  3. 需求服务
    2022-11-03 21:18:05
  4. 需求签约
  5. 需求完成