SMD晶振封装上盖镀镍层特性对晶振封焊性能的影响
价格 双方协商
地区: 安徽省 铜陵市 铜官区
需求方: 安徽***公司
行业领域
新材料技术,金属材料
需求背景
石英晶体谐振器是广泛使用的电子元件,SMD石英晶振用金属盖板(LID)是晶体三大核心部件之一,其技术和品质状况决定了石英晶体谐振器的技术水准和质量水平,现用LID上盖是采用可伐材电解镀镍生产的,电镀成品需要与晶振基座上的可伐环(镀金)进行电阻焊,将晶振致密封闭在腔体内,满足内部晶振工作的密闭环境要求。现在需要了解的LID上盖镀层对产品的密封性能和内部晶振的性能有哪些影响,需要优化镀层的哪些参数。
需解决的主要技术难题
现有工艺采用瓦特镍工艺,在可伐材料基体上直接电镀暗镍,除客户指定外,镀层厚度3-5微米,正常产品抗中性盐雾试验36小时以上;产品热处理去应力后发给客户端使用。客户在对比试验中发现,产品封焊漏气率高于日本进口同类产品;针对晶振高频产品,封焊后晶振频率偏移大于进口同类产品。
需要解决:
1除镀层厚度以外镀镍层的哪些特性会导致封焊漏气率偏高?
2除镀层厚度以外镀镍层的哪些特性会导致成品晶振频率偏移?
期望实现的主要技术目标
1课题解决将会提高产品工艺生产的技术水平;
2工艺控制中产品合格率也将会提高5-8%,降低生产成本。
处理进度