晶圆级液体塑封工艺参数影响因子的研究
价格 双方协商
地区: 安徽省 铜陵市 市辖区
需求方: 铜陵***公司
行业领域
新一代信息技术产业,信息传输、软件和信息技术服务业
需解决的主要技术难题
集成电路晶圆级塑封有以下缺陷:void(空洞),die shift(芯片偏移),warpage(翘曲),package delamination(塑封体分层)。如何通过设计一个试验方法,分析得出不同的压机工艺参数(合模压力,合模速度,注塑压力,真空度等)和液体塑封料的工艺参数,分别对这些缺陷有无影响,影响因子分别是多大?
合作方式:联合攻关,成果共享
处理进度