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高精度阵列器件的测试电路

发布时间: 2023-09-26
截止日期:2024-09-26

价格 双方协商

地区： 浙江省 宁波市 海曙区

需求方： 宁波***公司

行业领域

电子信息技术

需求背景

液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)具有外型轻、薄、耗电量少以及无辐射污染等特性，因此被广泛地应用在移动电话、个人数字助理(PDA)、数字相机、笔记本电脑等各种便携式电子设备上，甚至已有逐渐取代传统桌上型计算机的CRT监视器的趋势。薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，简称TFT-LCD)是多种液晶显示器的一种，它使用薄膜晶体管技术改善影像品质。阵列测试(Array Test)电路，是一种在TFT-LCD阵列制程中用来测试阵列侧电性情况的电路，对于产品良率的提升具有很重要的作用。阵列测试电路通常位于液晶显示面板(Panel)的上部，由阵列测试焊盘(Array Test pad)和相应的多路复用选择器(DEMUX)电路组成。开关信号焊盘(SW pad)是阵列测试焊盘中的一部分，目前常用的阵列测试电路中的开关信号焊盘设计方案中，都是需要三个开关信号焊盘。

随着半导体制程工艺的不断提升，测试和验证也变得更加重要，测试作为其中的重要一环也面临着越来越高的技术要求。例如，针对新型阻变存储阵列器件(rram)的测试，需要给器件提供脉冲激励信号(pgu)来实现编程和擦除，其次还需要高精度的源表(smu)来测量器件的直流参数。针对阵列结构中单元器件的选通，采用模拟开关进行地址和信号选通的方法具有低成本、体积小、可重复性高等优点，从而被广泛采用。此类器件的测试又要求电路中的模拟开关同时具有较大的带宽和较小的输出电阻。由于模拟开关很难同时具备较高的带宽、较低的导通电阻和较低的漏电流，因此，具有能消除高带宽模拟开关通道电阻能力的阵列器件测试电路，有着重要意义。

需解决的主要技术难题

现有的采用模拟开关来实现存储阵列的选址的方法中，因对选通电路带宽极高、模拟开关低漏电和较低的导通电阻要求的矛盾，不能同时实现高带宽、低漏电和低导通电阻等性能，结果导致在待测器件上所施加的脉冲信号严重失真，进而使直流测量无法做到高精度。

期望实现的主要技术目标

1、提升高带宽、低漏电和低导通电阻等性能  ；

2、采用高精度直流测量方式；

3、在不改变原有布局走线的基础上，只利用一个开关信号就可以实现同时给多个信号线提供开关信号，有效减少阵列测试时输入信号的数量。