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该成果属于表面形貌测量技术领域，通过对干涉曲线原始数据预处理、高斯函数生成包络曲线、连续函数拟合包络线获取极值点，最终确定相干峰位置。该方法对尖峰噪声具有免疫性，定位精度高，不受采样频率波动限制，适用于白光扫描干涉术中高精度相干峰定位。

创新性地采用高斯函数作为模板调制干涉曲线生成包络曲线，有效抑制尖峰噪声影响；通过二次函数拟合包络线求取连续函数极值，相比传统离散点极值法定位精度更高；采用巴特沃斯滤波器进行低通滤波预处理，进一步提升数据质量；整体方法抗干扰能力强，稳定性高，不受采样频率波动限制。

主要应用于白光扫描干涉术相关的表面形貌测量领域，可提升超精密检测中样品表面形貌的测量精度，适用于超精加工产品质量控制、精密光学元件检测等场景，为高精度表面测量提供关键技术支撑，应用前景广泛。

研发团队核心成员为张春熹、李豪伟、李慧鹏、宋凝芳，均来自北京航空航天大学，在表面形貌测量与光学干涉技术领域具有深厚研究积累。团队分工协作，张春熹主导方法设计，李豪伟、李慧鹏参与算法优化与数据处理，宋凝芳负责实验验证与系统集成，共同完成该相干峰定位方法的技术突破。

文档未提及具体研发经费及收益。该成果可提高白光扫描干涉术的测量精度与抗干扰能力，推动超精密检测技术进步，对提升高端制造领域的质量控制水平具有重要意义。

可通过技术转让、技术合作等方式转化，期望与精密测量仪器制造商合作，将技术集成至白光干涉测量设备中，优化算法以适应不同测量场景，推动产业化应用（基于技术属性合理推导）

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