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X射线诊断机实时焦点测量技术研究

成果类型：: 实用新型专利

发布时间: 2023-08-25 15:52:21

科技成果产业化落地方案
方案提交机构：成果发布人| 陈梦竹 | 2023-08-25 15:52:21
成果简介 技术亮点 应用前景 团队概括 产生的效益 转化方式

半导体探测器作为传感器，探测诊断X射线。将探测器分布设置为阶梯分布，提高位置分辨率，提高传感器在弱信号下的响应敏感，适应X光机焦点狭缝成像；旋转平台装置。该装置旋转平台，用于安装电路、探测器，具有水平调节功能。同时整个平台可以360度旋转。

每90度有定位装置，自动定位，用于测量相互正交的两个方向上焦点的宽度，完成X光机焦点的长度和宽度方向的测试；自动采集软件。软件能对半导体器件的驱动单元进行数据初始化，控制参数设置，完成数据测试和分析。

将高速数据采集和数据传输相结合，实现信号的实时处理；将两次成像的工作原理应用到焦点成像的测量中，无需知道焦点的准确位置，即可计算实际等效焦点在参考平面的大小；曝光量（mAs）的检测限提高到5mAs，减少曝光量，减少环境辐射；将测量范围扩大到30毫米，能适应焦点尺寸0.1～6毫米。即使在灯光野下焦点的像存在偏移，也能完全覆盖焦点成像的范围。

入选“中西部基础能力建设工程”高校、国家“特色重点学科项目”建设高校、教育部“卓越工程师教育培养计划高校”、教育部“国家大学生创新性实验计划”实施高校、中国政府奖学金来华留学生接收院校、国家级新工科研究与实践项目、黑龙江省国内“双一流”建设高校、黑龙江省首批高等学校课程思政建设示范高校，为CDIO工程教育联盟成员。

可以有效降低半导体探测的时间成本和研究成本，提高X射线诊断的工作效率，具有环保、安全等优势。

本项目可以采用技术转让、技术合作等多种形式进行对接，欢迎有需求的企业单位联系洽谈。