成果介绍
本成果研究了 Y 和 Gd 共掺杂对 BaCe₀.₅Zr₀.₃Y₀.₂₋ₓGdₓO₃₋δ(x=0, 0.05, 0.1)质子导体材料的结构、化学稳定性及电学性能的影响。通过固相反应法成功合成了 BCZYGx 系列材料。EIS 和 DRT 分析结合等效电路模型,系统评估了不同 Gd 掺杂浓度下的电导行为。BCZYG5 在 800°C、20% O₂、4.51 kPa H₂O 条件下电导率达 8.90×10⁻³ S・cm⁻¹。缺陷平衡模型计算表明,Gd 掺杂有效抑制了电子空穴导电,质子迁移数随温度升高而下降,氧离子和电子空穴迁移数上升。研究还绘制了不同气氛下各载流子的主导区域图,为材料在实际工况下的应用提供了指导。
成果亮点
Gd 掺杂显著提升了材料的化学稳定性与电导率,优于未掺杂 BCZY。
通过缺陷平衡模型定量计算了各载流子的迁移数,填补了该体系的机制研究空白。
绘制了质子、氧空位、电子空穴在不同气氛下的主导区域图,具有明确的工程指导价值。
为 Y/Gd 共掺杂策略在 SOFC 电解质中的应用提供了系统的实验与理论支持。
团队介绍
杨利新,男,汉族,陕西渭南人。毕业于东北大学冶金工程专业,主要研究方向为质子导体电解质材料的制备及性能研究,目前以第一作者发表SCI论文7篇。
成果资料