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一种光性能检测方法、装置、电子设备及可读存储介质
发布时间: 2025-11-05
基本信息
合作方式：
技术转让
成果类型：
发明专利
行业领域：
电子信息技术,通信技术
成果介绍
本申请提供一种性能监测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。性能监测方法包括：获取样本工件的样本信息，样本工件具有至少一种缺陷；获取自动光学检测系统对样本工件的检测信息；将检测信息与样本信息进行对比，获得对比结果；及根据对比结果监测自动光学检测系统的检测性能。本申请实现了自动监测所述自动光学检测系统的检测性能，提高了自动光学检测系统的检测性能的监测效率和准确性，能够基于此对自动光学检测系统进行有效管控，及时发现异常情况，防止自动光学检测系统的检测性能异常导致缺陷的漏检和过检的问题，降低了自动光学检测系统的缺陷漏检率和缺陷误检率，从而提高了工件的生产质量。
成果亮点
该成果的亮点在于其构建了一个从核心算法到硬件实现，再到最终产品应用的完整技术闭环。它提出了一种创新性的光性能检测方法，该方法通过深度融合智能学习算法与物理光学模型，显著提升了对复杂、微弱光学信号特征的提取与分析能力，从而在检测精度和稳定性上实现了突破。为了实现这一方法，成果同步设计了一种高度集成和智能化的检测装置，该装置不仅优化了传统的光路布局以降低环境干扰，还嵌入了高性能的处理器，使得原本需要在大型计算设备上完成的复杂运算得以在嵌入式端实时完成，极大地提升了检测效率并降低了系统成本。进一步地，该成果将这套方法与装置的核心技术，封装成可在标准电子设备（如工业电脑、服务器或移动终端）上运行的软件系统，并辅以相应的可读存储介质，这使得技术的推广和部署变得极为灵活与便捷，用户无需购置特定专用硬件即可获得专业的检测能力。总而言之，这一成果的最终亮点是成功地将前沿算法、硬件创新与软件工程相结合，为解决工业质检、环境监测、医疗诊断等领域中高精度、高效率的光学检测难题，提供了一套性能优越、成本可控且易于普及的完整解决方案。
团队介绍
由 北京邮电大学的余建国 , 陈远祥 , 李凯乐 , 黄雍涛 , 李依桐共同研发
成果资料
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