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一种适用于表面形貌检测的白光干涉三维重建方法

发布时间: 2025-10-15

基本信息

合作方式: 技术转让
成果类型: 发明专利
行业领域:
高新技术改造传统产业,先进制造技术
成果介绍
该成果属于表面形貌测量技术领域,通过移相器和相机配合采集原始数据,利用高斯函数生成干涉曲线的包络曲线并拟合获取零光程差位置,结合 Carré 相移算法解算相位信息,综合两者得到高度信息以重建样品表面三维形貌。适用于各种样品的表面形貌测量,在有外界干扰的情况下仍能保证结果准确,鲁棒性强。
成果亮点
创新性地采用高斯函数调制干涉曲线生成包络曲线,通过二次函数拟合定位零光程差位置,相较于离散采样点更精准,且不受移相器采样频率波动影响;结合 Carré 相移算法解算相位信息,综合强度与相位信息提升高度测量精度;能有效抑制机械振动、光源波长漂移等外界干扰,对被测样品无选择性,鲁棒性显著提升。
团队介绍
研发团队核心成员为张春熹、李豪伟、李慧鹏、宋凝芳,均来自北京航空航天大学,在表面形貌测量与光学检测领域具有深厚研究积累。团队分工协作,张春熹主导整体方法设计,李豪伟、李慧鹏参与算法优化与数据处理,宋凝芳负责实验验证与系统集成,共同完成该三维重建方法的技术突破。
成果资料
产业化落地方案
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