成果介绍
随着航天产业对成本控制的需求以及商业航天的兴起,COTS器件的应用越来越多。COTS器件以纯锡镀层为主,依据传统理论,纯锡镀层会生长锡须,当长度超过绝缘安全间隙后,引发短路风险或尖端放电,故锡须可靠性是电子产品服役可靠性重要方向之一。现有研究更多基于地表环境,对空间环境下的锡须生长研究还相对较少。本项目成果主要针热真空环境对COTS器件对锡须生长的影响以及相应的抑制方法。
成果亮点
1)对于COTS器件,纯锡镀层易于生长锡须,热循环、热冲击及热真空试验均发现锡须生长。不同器件,锡须生长倾向不同。相对来讲,瓷介电容无论最大锡须长度或锡须密度均为几种试验器件中最大,其内部镍镀层不能有效抑制锡须生长。对于SOP或TO封装等成型器件,锡须主要集中于应力集中最大的成型弯折处。
2)随着循环周次增加,锡须长度及锡须密度均不断增加。对比不同条件,热真空条件下锡须生长速度远高于热循环与冲击条件,观察到400周次后,0603封装瓷介热冲击锡须最大长度为59μm,热循环为53μm,热真空则为124μm。这与热真空条件下氧化膜厚度低有关,锡须生长阻力较小,锡须密度与其他条件相当,真空条件对锡须的萌生影响有限。此外,不同锡须生长具有不同生命周期,当循环达到一定周次后表现为有的锡须停止生长,有些继续生长。
3)随着温变范围的减小,锡须生长均表现出锡须长度及密度的下降,0-40℃温度范围几乎无锡须萌生及生长。而对于-40-85℃及-55-100℃,锡须密度及长度均大大增加。
团队介绍
北京航空航天大学(Beihang University),简称北航(BUAA),位于中国首都北京市,隶属于中华人民共和国工业和信息化部,中央直管高校,中国第一所航空航天高等学府,具有航空、航天和信息领域的发展比较优势。是国家重点建设的高校、全国第一批16所重点高校之一、211工程、985工程建设高校、国家“双一流”建设高校。
成果资料