本成果针对射频信号检测中传统技术存在的 “串联传输线导致功率损耗大” 问题,开展了射频电路、射频前端模组及推挽功率放大器的核心技术攻关。现有射频电路中,为检测输出信号功率需在传输路径串联传输线,不可避免引入额外损耗,影响整体效率;尤其在推挽功率放大等场景中,损耗问题会降低功率输出稳定性。
本发明通过创新设计,采用 “第一线圈与转换巴伦的主级线圈 / 次级线圈耦合” 方案,无需串联传输线即可实现功率检测:第一线圈一端连接信号检测端,另一端接地,通过电磁耦合从主级或次级线圈获取信号,避免额外损耗。关键指标包括:耦合度控制在 - 30dB 至 - 10dB(确保检测精度同时不影响主副线圈匹配);工作频段相对带宽≥30% 时,通过第一电容优化使检测功率在频段内保持平坦(相对带宽 ΔF=(fH-fL)/(fH+fL),fH 为最大工作频率,fL 为最小工作频率);射频前端模组采用多层金属层设计(主级线圈与第一线圈同层或异层耦合),适配小型化设备需求。
本技术突破传统射频信号检测的 “损耗瓶颈”,核心创新点体现在三方面:
1. 无损耗检测设计:通过第一线圈与转换巴伦线圈耦合传输检测信号,替代传统串联传输线方案,从原理上消除额外功率损耗。传统方案因串联传输线引入 5%-10% 的损耗,本技术损耗可忽略不计,显著提升射频电路整体效率。
2. 宽频带适配能力:通过第一电容与线圈的匹配设计,在相对带宽≥30% 的工作频段内,检测功率保持平坦,解决了宽频场景下检测精度波动问题。相比同类技术(多适用于窄带场景,带宽<20%),适配 5G 通信等宽频需求。
3. 模块化集成优势:射频前端模组采用多层金属层布局(第一金属层与第二金属层分别设置线圈),支持同层或异层耦合(如主级线圈与第一线圈同层、次级线圈异层),兼顾耦合效率与小型化,可集成于推挽功率放大器等设备,满足终端设备轻薄化需求。
核心研发团队以刘子林为带头人,成员包括曹原、倪建兴,分工明确且经验丰富:
1. 刘子林:项目总负责人,资深射频工程师,拥有 10 年以上射频电路设计经验,主导本专利核心架构设计(耦合线圈与巴伦的匹配方案),曾参与多项省级射频技术研发项目,在宽频射频器件领域发表论文 5 篇。
2. 曹原:电路优化负责人,专注于射频模组集成设计,负责多层金属层布局及电容匹配方案,确保宽频带内检测功率平坦,曾参与 3 款射频前端模组的量产开发。
3. 倪建兴:应用验证负责人,负责推挽功率放大器的适配测试,验证耦合度控制及损耗指标,拥有 8 年射频设备测试经验,保障技术产业化可行性。
团队长期深耕射频技术,协作完成从原理设计到落地验证的全流程,具备强技术攻坚能力。
评价单位:- (-)
评价时间:2025-11-04
综合评价
该成果在射频信号无损耗检测领域技术创新性强,首创耦合线圈检测方案,解决了传统串联传输线的损耗问题,宽频适配能力符合 5G 及物联网发展需求。技术已获专利授权,处于工程化阶段,产业化条件成熟。
市场方面,全球射频前端市场规模大且增长快,该技术成本优势明显,替代进口潜力大;政策上契合国家国产化及新基建政策,支持力度强。
建议加快与下游厂商的联合测试,推进量产工艺优化;引入产业资本,扩大产能以抢占市场。总体而言,该成果技术先进、市场前景好,值得推广。
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