科创中国
一种扬声器TS参数测量方法
发布时间: 2024-08-08
基本信息
合作方式：
技术转让
成果类型：
发明专利
行业领域：
电子信息技术
成果介绍
一种扬声器TS参数测量方法的发明专利，主要关注于如何精确且无损地测量扬声器的Thiele-Small（TS）参数。TS参数是扬声器设计中的重要性能指标，包括谐振频率（fs）、声顺的等效容积（Vas）、机械阻尼因数（Qms）和电气阻尼因数（Qes）等。这些参数对于设计扬声器箱体、优化声音表现至关重要。
成果亮点
1. 精确度高
无损测量：该方法在测量过程中不会对扬声器的振膜造成损伤，确保了测量的精确性和扬声器的长期使用寿命。
直接读数：通过获取步进电机伸缩杆与扬声器振膜接触时的压力传感器读数（第一压力值），以及在施加预设压力后电流读数等于第一压力值时的电流读数（第一电流值），直接且精确地确定了扬声器的力系数等关键参数。
2. 测量过程简单
步骤清晰：该方法步骤明确，包括初始测量、施加压力并测量、阻抗特性曲线测量、计算TS参数和结果验证与优化等阶段，使得操作人员能够轻松上手。
设备需求少：相比传统测量方法，该方法所需的设备较为简单，主要包括步进电机、压力传感器、供电电源和信号发生器等基础设备，降低了测量成本和复杂度。
3. 适用性广
多参数测量：该方法不仅能够测量扬声器的谐振频率（fs）和声顺的等效容积（Vas）等基本参数，还能够计算机械阻尼因数（Qms）和电气阻尼因数（Qes）等高级参数，满足了不同设计需求。
适应性强：无论是对新生产的扬声器还是对过去生产的扬声器进行TS参数测量，该方法都具有良好的适用性。同时，它还可以应用于不同类型的扬声器，如低音扬声器、高音扬声器等。
团队介绍
/
成果资料
下载app