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一种时分多脉冲间接像差测量方法
发布时间: 2023-11-03
基本信息
合作方式：
技术服务
成果类型：
发明专利
行业领域：
物理
成果介绍
本发明涉及双光子成像的技术领域，公开了一种时分多脉冲间接像差测量方法，包括回形腔，光脉冲进入回形腔后产生在时间上分开的光脉冲序列，在回形腔中设有波前校正器DM1；对光脉冲的像差作Zernike模式矫正，包括以下矫正步骤：加载基础像差到波前校正器上；矫正Zernike多项式Zi；在波前校正器上加载先后a0Zi和‑a0Zi，得到携带n*a0Zi像差的脉冲序列以及对应的荧光序列；找出最优系数aopt；将aopt*Zi作为基像差加入回形腔外的波前矫正器DM0矫正，直至系数收敛，DM0累积的像差即为测得的波前像差。本发明将模式法逐一测系数的方法优化为用回形腔产生时分多脉冲，携带不同系数来测量，原来Zernike多项式的每一项需要测量K个系数加载K次相位图，现减少为2次，因此整体的速度提高了K/2。
成果亮点
1.一种时分多脉冲间接像差测量方法，其特征在于，包括回形腔，激光光源发出的光脉冲进入所述回形腔后产生在时间上分开的光脉冲序列，在所述回形腔中设有波前校正器DM1，用于对光脉冲序列加载不同像差，在所述回形腔外设有用于矫正像差的像差矫正器DM0；对光脉冲的像差作Zernike模式矫正，包括以下矫正步骤：
S1：在所述像差矫正器DM0上加载基础像差；
S2：在所述波前校正器DM1上加载Zernike多项式的Zi项系数，得到光脉冲序列的像差；检测在时间上分开的光脉冲序列对应的荧光序列，找到荧光序列最强光强对应的最优系数aopt；
S3：将aopt*Zi作为基像差加载到所述像差矫正器DM0上，通过迭代的方式组合各项最优的系数；
最终在所述像差矫正器DM0上累积的像差即为测得的波前像差。
团队介绍
中国科学院深圳先进技术研究院提升了粤港地区及我国先进制造业和现代服务业的自主创新能力，推动我国自主知识产权新工业的建立，成为国际一流的工业研究院。 深圳先进院目前已初步构建了以科研为主的集科研、教育、产业、资本为一体的微型协同创新生AC态系统，由九个研究平台，国科大深圳先进技术学院，多个特色产业育成基地、多支产业发展基金、多个具有独立法人资质的新型专业科研机构等组成。开展先进技术研究，促进科技发展。信息、电子、通讯技术研究新材料、新能源技术研究高性能计算、自动化、精密机械研究生物医学与医疗仪器研究相关学历教育、博士后培养与学术交流。
成果资料
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