本实用新型涉及一种X射线条纹相机静态测试系统和动态测试系统。本实用新型基于电子光学MTF理论和分划板型光电阴极制作,在大工作面积X射线条纹相机上,在静态测试模式和动态测试模式两个工作模式下,测量条纹相机空间分辨率,计算条纹相机SMTF、DMTF和极限空间分辨率。
该方法可通过实验测量数据拟合得到条纹相机全部成像区域的极限空间分辨率分布,为实现激光ICF定量、半定量测量和“精密化”诊断目标具有重要意义。
主要发明人简介:
杨勤劳,男,研究员,硕士生导师。1978年毕业于北京大学无线电电子学系电子物理专业。毕业后一直在中国科学院西安光学精密机械研究所工作。
1999年9月调入深圳大学光电子学研究所工作至今,长期从事特种光电成象技术及超快诊断技术研究工作。
杨勤劳研究员,曾作为主持人或骨干完成科研项目十四项,先后获国家发明二等奖2项,国家发明三等奖1项,国家科技进步三等奖1项,中国科学院科技进步一等奖2项,二等奖1项,三等奖1项,国家发明专利5项,国家发明专利金奖1项,陕西省发明专利金奖1项,发表论文30余篇。
评价单位:- (-)
评价时间:2023-01-06
综合评价
本实用新型基于电子光学MTF理论和分划板型光电阴极制作,在大工作面积X射线条纹相机上,在静态和动态两个工作模式下,测量条纹相机空间分辨率,计算条纹相机 SMTF、DMTF和极限空间分辨率。该方法可通过实验测量数据拟合得到条纹相机全部成像区 域的极限空间分辨率分布,为实现激光ICF定量、半定量测量和“精密化”诊断目标具有重要意义。
查看更多>