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一种薄膜表面电导率测试技术，具体涉及一种基于电磁场近场提取导电薄膜表面电导率的测试装置及方法，是采用电磁场近场测试来精确测定薄膜表面与位置和频率相关的局部电导率。导电薄膜在柔性电子产业领域应用广泛、需求迫切。目前工业界最常用的导电薄膜有氧化铟锡(ito)薄膜、氟掺杂氧化锡(fto)薄膜以及石墨烯等二维材料薄膜，它们的电导率是其应用于屏幕显示、屏幕触控、太阳能电池等产品的关键影响因素之一。大规模生产高质量的电子薄膜，不仅需要在生产时进行精密的流程控制，更需要对不同产品、不同批次进行高效的定量测试。

目前的测试方法包括在同轴、波导等腔体内测试，对导电薄膜形状加工精度要求较高、加工误差度测试结果影响较大。 在电磁场与电磁波的前沿研究领域，有大量关于新型二维导电薄膜的理论研究，这些薄膜包括石墨烯、二硫化钼、六方氮化硼等，它们在理论上被广泛用于新型波导、新型天线、新型滤波器等无源器件的设计。目前，这些新型薄膜的生产质量不稳定、生产规模较小，因而更需要在生产和设计中对它们的电导率进行严格地调控，并进行精细地测定。

北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心），隶属于北京市科学技术研究院，是一所以应用基础研究为主的社会公益性现代分析测试科学研究机构。北京市理化分析测试中心成立于1979年，2021年7月，经市编办批准，更名为北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心）简称“分析测试所（理化中心）”。 分析测试所现有职工200余人，其中高级职称55人，中级职称73人，博士43人，硕士72人。北京市科技新星3人，北京市优秀人才11人，北科学者1人，北科青年学者2人。拥有总价值2.7亿元的科研仪器设备2000余台（套），其中100万元以上大型仪器设备50台（套），实验室面积共1.2万余平方米。 长期以来，分析测试所秉承创新发展理念，以服务社会进步和首都经济发展为宗旨，积极投入国际科技创新中心建设，聚焦食品安全、环境保护、新材料、生物医药、科学普及与传播、国产科学仪器应用示范等重点领域开展分析测试科学研究、技术服务和成果转化工作，具备从宏观到微观、从成分到结构的科研创新和测试服务综合能力。

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