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面扫描三维测量系统精度的实时调整方法

发布时间: 2022-09-23

来源: 试点城市(园区)

基本信息

合作方式: 技术转让
成果类型: 发明专利
行业领域:
高新技术改造传统产业
成果介绍
本发明公开了一种面扫描三维测量系统精度的实时调整方法。首先通过判断相机内外部参数是否符合当前工作状态要求来确定面扫描三维测量系统的精度是否符合要求,如果相机内外部参数符合当前工作状态要求则继续测量,否则利用Levenberg-Marquardt算法对相机内外部参数进行优化,使目标函数的平均值最小,此时认为相机内外部参数是最优的;接着判断目标函数的平均值是否小于误差阈值,是则用优化后的相机内外部参数继续测量,否则提示用户重新进行标定。本方法能实时、在线地进行精度自检测和相机参数自动优化,在不重复标定的情况下,能够使得相机的重投影误差平均值保持在0.0028像素左右达20天以上。
成果亮点
由于受到环境温度、工作过程中热作用的影响,相机相关部件会发生温漂,固定双相机的支架会由于受热作用产生热应变;工作过程中震动、固定、支撑位置的改变也会使固定支架产生微小变形;固定相机的螺钉等部件在振动过程中松动,会引起两个相机固定位置发生改变;空气湿度的变化也会引起相机内部参数和外部参数发生相应变化。这些微小变化都会对面扫描三维测量系统这样的精密光学设备产生重大影响,严重影响了三维重建结果的精度。
团队介绍
史玉升,1962年出生。博士,教授,博士生导师,华中科技大学特聘教授。 现任华中科技大学材料科学与工程学院副院长、材料成形与模具技术国家重点实验室副主任、湖北省先进成型技术及装备工程技术研究中心副主任、中英先进材料及成型技术联合实验室副主任、材料化学与服役失效湖北省重点实验室学术委员会委员、湖北省机械工程学会理事、湖北省机电一体化技术应用协会理事、中国机械工程学会高级会员、中国机械工程学会特种加工分会青年工作委员会委员等职务
成果资料