您所在的位置: 成果库 一种基于相移和三视张量的对应点查找方法

一种基于相移和三视张量的对应点查找方法

发布时间: 2022-09-23

来源: 试点城市(园区)

基本信息

合作方式: 技术转让
成果类型: 发明专利
行业领域:
高新技术改造传统产业
成果介绍
本发明属于动态物体三维测量领域,具体为一种基于相移和三视张量的对应点查找方法,本发明包括利用视差约束排除误匹配点、光栅边界点的对应优化、混合一致性检查,最后为了进一步提高对应点精度,还提出了利用极线约束改善对应点精度的方法,最终实现了全时间分辨率、全空间分辨率的动态物体三维测量。该方法在三维重建的过程中无需相位展开,直接利用三视张量的约束来求得源匹配点的对应点,从而无需考虑被测物体的表面不连续状况。同时,无需相位展开还使得数据处理的速度得到了较大的提高,从而满足变形物体实时监控的要求。该方法可以测量任意形状的动态物体,并且不需要额外的图像来确定对应点。
成果亮点
本发明所涉及的动态物体三维面形测量是目前三维测量技术中的研究热点之一,其实现的关键是在数据采样时间间隔内,必须一次或数次完成对被测物体表面形貌数据的获取、处理及三维模型的重建。为了实现这一目标,国内外研究人员提出了飞行时间法、立体视觉法、结构光法等解决方案。其中,结构光法使用主动光源向被测物体投射编码图像,然后使用一个或多个相机拍摄经被测物体表面三维形貌调制而变形的编码图像,最后根据变形的编码图像利用立体视觉原理重建被测物体表面的三维形貌。此方法具有环境纹理的无关性、三维重建算法的健壮性等优点,是目前使用最为广泛的方法之一。根据投射的编码图像的数目,结构光法主要可以分为两大类:1)使用单幅图像进行三维重建;2)使用多幅图像进行三维重建。使用单幅图像进行三维重建的结构光三维测量方法可分为使用彩色信息和使用灰度信息对图像进行唯一性编码,此类方法,测量过程中仅需拍摄一幅编码图像即可重建被测物体表面的三维数据,测量所需的数据量小,图像投影装置和采集装置无需严格同步,因此易于实施。但是此类方法具有以下局限:1)译码过程易受被测物体表面颜色和阴影的影响,算法的精度和稳定性差;2)译码和计算过程中需
团队介绍
史玉升,1962年出生。博士,教授,博士生导师,华中科技大学特聘教授。 现任华中科技大学材料科学与工程学院副院长、材料成形与模具技术国家重点实验室副主任、湖北省先进成型技术及装备工程技术研究中心副主任、中英先进材料及成型技术联合实验室副主任、材料化学与服役失效湖北省重点实验室学术委员会委员、湖北省机械工程学会理事、湖北省机电一体化技术应用协会理事、中国机械工程学会高级会员、中国机械工程学会特种加工分会青年工作委员会委员等职务
成果资料