一种基于工作负载下层次化识别电路门的方法
发布时间: 2022-06-28
基本信息
本发明公开了一种基于工作负载下层次化识别电路门的方法,属于高性能处理器高可靠领域。所述方法包括:工作负载信号的获取,信号概率提取阶段,读取电路网表与设计约束、获取电路的路径延时,得到潜在的关键路径;参数分析计算阶段,用于计算在NBTI的效应下,老化延时退化获取,电路路径所能承受的最大关键路径延时;层次化识别门确定阶段,用于确定关键路径中对于老化敏感度比较高的门,并提出一种新的计算权重的方法,根据权重的大小,对确定的电路门进行排序,从而对门电路进行分层次分批次处理。本发明可集成于ASIC的设计流程中,能够有效的识别老化关键路径及老化关键门,降低传统方法对关键路径中门替换的复杂度,提高工作效率。
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