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一种多点同时测量单面镀膜透镜的镀膜厚度装置

发布时间: 2022-06-01

基本信息

合作方式： 技术转让
成果类型： 发明专利,新技术
行业领域：
其他
成果介绍

本实用新型提供了一种多点同时测量单面镀膜透镜的镀膜厚度装置，该装置包括光源、分光装置、透镜、光电位移传感器、信号放大器、光信号处理器和计算机；所述光源、分光装置、透镜和所述光电位移传感器的光接收面的中心同一光路上、且依次排列；所述光电位移传感器、信号放大器、光信号处理器和计算机依次电连接。光源经过所述分光装置分成多束光，经过透镜投射到所述光电位移传感器上，所述光电位移传感器将光信号经过所述信号放大装置放大后传送到所述光信号处理器，所述光信号处理器将光信号转换为电信号后输入到所述计算机，所述计算机进行薄膜厚度的计算，可实现同时多点测量单面镀膜透镜的镀膜厚度，通过对比镀膜厚度分析镀膜的均匀性。

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