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低照度CMOS分辨率测试装置

发布时间: 2022-05-26

来源: 试点城市（园区）

基本信息

合作方式： 技术转让
成果类型： 发明专利,新技术
行业领域：
高端装备制造产业,制造业
成果介绍

本发明提供一种低照度CMOS分辨率测试装置，包括物镜、物镜组件、平行光管、靶标系统组件、大积分球、两个光源、两个光阑调节机构；其中物镜固定于物镜组件后端，平行光管后端固定于物镜组件前端，靶标系统组件设置于平行光管前端和大积分球的输出端，第一光源与大积分球的第一输入端连接，第二光源于小积分球的输入端连接，小积分球输出端通过光阑调节机构与大积分球的第二输入端连接。

成果亮点
团队介绍
成果资料