一种X射线荧光光谱定量分析的装置
发布时间: 2022-05-08
基本信息
本实用新型公开了一种X射线荧光光谱定量分析的装置。现有技术数学校正法和实验校正法的理论计算和标样比较过程复杂。本实用新型包括高能脉冲激光器、激光反光镜、激光导入窗口、固体样品、固体样品台、固体样品磁力传动杆、传动杆法兰、磁铁传动滑块、磁力传递杆套筒、磁力传递杆法兰、石墨沉积台、石墨沉积台支撑杆、石墨沉积台法兰、X光管、X光管电缆、X荧光探测器、金属陶瓷电极、X荧光探测器支撑杆、真空机组和真空腔体。本实用新型通过薄膜沉积技术从源头上消除了产生基体效应的因素,简化了XRF定量分析中基体效应影响的消除过程,提高了检测效率和测试精度。

Copyright © 2022 中国科学技术协会 版权所有 | 京ICP备16016202号-20
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