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利用反向恢复电流测量半导体双向开关载流子寿命的电路

发布时间: 2022-05-06

基本信息

合作方式： 技术许可
成果类型： 发明专利
行业领域：
其他
成果介绍

本实用新型提供一种利用反向恢复电流测量半导体双向开关载流子寿命的电路。包括功率脉冲发生器(M1)、采样脉冲发生器(M1)、第一场效应管(FET1)、三极管(Q1)、第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第三电阻(R3)、积分电容(C)及电压表(J)。功率脉冲发生器的负极与该开关第一端及采样脉冲发生器的正极相连后接地，功率脉冲发生器的正极与该场效应管的源极相连；该场效应管的漏极通过第二电阻与该开关第三端相连，还通过第三电阻与三极管的基极相连，该场效应管的栅极通过第一电阻与该开关第二端相连；三极管的集电极与电压表的正极相连，电压表的负极接地，该集电极还通过积分电容与采样脉冲发生器的负极相连，三极管的发射极与开关第三端相连。本实用新型能够测出双向晶闸管等器件的载流子寿命。

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