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批量加工晶圆的统计过程控制方法

发布时间: 2022-04-30

基本信息

合作方式: 技术许可
成果类型: 发明专利
行业领域:
新一代信息技术产业,信息传输、软件和信息技术服务业
成果介绍

本发明公开了一种批量加工晶圆的统计过程控制的方法,主要解决现有控制图无法对批量加工晶圆实施统计过程控制的问题。其实施步骤是:1、当同一产品在相应加工炉中完成晶圆批量加工后,采集样本数据,获得每个子批的均值和标准偏差;2、由子批均值和标准偏差,计算二阶嵌套控制图中四个控制图相应的特征值,获得二阶嵌套控制图中四个控制图的控制线;3、按照休哈特控制图的绘制方法,将特征值和控制线绘制到对应的控制图中;4、应用判断过程异常准则对步骤3的四个控制图进行判断,得出批量加工晶圆的生产过程是否处于受控状态的结果。本发明可全面监控晶圆批量加工,且具有诊断功能,提高了晶圆的加工质量,可用于晶圆批量生产。

成果亮点
团队介绍
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