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技术领域

本实用新型属于超导材料性能测试技术领域，尤其涉及一种超导薄膜压缩时

临界电流密度和临界温度的测量装置。

背景技术

随着科技的进步，人们发现超导薄膜具有较高的临界电流密度及超导临界温

度，并且在滤波器等电子器件中具有很好的应用。超导薄膜在低温下不可避免的

会受到面内力的作用，影响其临界电流密度 Jc 及临界温度 Tc。因此超导薄膜在

加载时，难以测出其临界电流密度及临界温度。目前，常用的加载方式分为两种：

夹持式加载和非夹持式加载。夹持式加载只能够夹住薄膜的两端，由于基底及薄

膜为脆性材料，无法承受夹头的夹持力。非夹持式加载时，无法保证压头施加的

力与薄膜表面平行，且薄膜易受偏心力而断裂。基于基底及超导薄膜本身厚度小

于 1mm，目前常规的加载方式不能够在不破坏薄膜本身的前提下对其进行压缩

加载，更无法在加载时测量超导薄膜的临界电流密度及临界温度。

实用新型内容

针对上述现有技术存在的不足，本实用新型提供了一种超导薄膜压缩时临界

电流密度和临界温度的测量装置，利用铍铜梁优异的弹性性能，通过对铍铜梁加

载压力时，铍铜梁发生纯弯曲压缩超导薄膜，在不破坏超导薄膜结构的情况下测

出超导薄膜的临界电流密度和临界温度。