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锂离子电池由于高能量密度、使用寿命长、高额定电压、充电速度快、绿色环保等优点，被大量的运用到平板电脑、手机、数码相机等便携式电子产品中。然而锂离子电池无法耐受过热、过充电以及过放电，上述使用情况会减少锂电池寿命甚至引起爆炸，所以锂电池在实际运用中均需要搭配相应的保护芯片。项目组在前期多次MPW流片测试的基础上，攻克了Bandgap和BIAS形成3个反馈环路交互启动、ESD耐压、检测精度及封装良率等难题，成功研制出低功耗、低成本、高精度的单节锂电保护芯片。此芯片采用高耐压CMOS工艺，内置高精度电压检测电路和延时电路，用于单节锂离子/聚合物可充电电池的保护IC。可对单节锂离子/聚合物电池的过充电、过放电、放电过电流、充电过电流、短路状态进行检测，并带有0V充电允许/禁止功能。芯片内部包含多个比较器、振荡器（频率1KHz）和逻辑电路等多个模块，采用了快速启动电路设计，消除了启动过程中输出电压的尖峰效应，电源电压范围广（2V-5V），功耗极低，工作模式下耗电3μA（VDD=3.9V，典型值），休眠模式下耗电最大值0.1μA（VDD=2V），检测精度、检测范围和功耗等核心指标超过国际同类产品，相关成果已申请发明专利，具有自主知识产权。