一种IC卡使用寿命测试装置

本实用新型公开了一种IC卡使用寿命测试装置，用于解决现有技术中人工夹紧装置致使IC卡与读卡器产生较大摩擦的问题。该装置为：夹装机构（1）固定连接在插拔单元（2）的上部，读卡器（3）安装在读卡器支撑结构（23）的上部；插拔单元（2）能够带动夹装机构（1）上安装的IC卡（5）前后移动，IC卡（5）能够插入或拔离读卡器（3）；夹装机构（1）的直流电机（8）驱动胶皮滚轴（12）与IC卡支撑轴（13）自动卷入并夹紧IC卡（5），读卡器支撑结构（23）中由四根位于矩形顶点的螺栓及弹簧（25）支撑读卡器（3）。采用该装置可以自动夹紧IC卡，夹紧位置标准，与读卡器之间摩擦小，接近真实插拔情况。